薄层色谱条件:原则组分应完全分离,斑点对称,均匀,不拖尾。
检测方法:吸收测定法和荧光测定法两种。在可见、紫外区有吸收的组分,可在200~800nm范围内采用吸收测定法测定。有荧光的组分,可选择好激发光波长(λex)和发射波长(λem),用荧光法具有专属性强、灵敏度高和线性范围宽度等特点。
测量方法:有反射法和透射法两种。反射法是将光束照射到薄层斑点上,测量反射光的强度;反射光灵敏度较低,
受薄层厚度影响较小,基线较稳,信噪比较大,因而使用较多。透射法受薄层厚度影响较大,且玻璃对紫外光有吸收,所以实际应用较少。
扫描方式:有单波长和双波长两种。双波长是两束不同波长的光,一束测量样品称测定波长(λS);另一束作为对照,称参比波长(λR)。两束光通过斩光器交替照射到斑点上,以吸收度之差ΔA定量。双波长可以消除薄层不均匀的影响,使基线变得平稳。测定波长一般选测定组分的最大吸收波长,参比波长可选在组分无吸收的位置,若背景光谱中与λS的等吸收处,可达到排除背景干扰的目的。单波长法通常用斑点吸收光谱的测定。 医学教.育网搜集整理
扫描方式还有线性扫描和锯齿扫描:线性扫描是用一束比斑点略长的光作单向扫描,扫描速度快,但斑点形状不规则或浓度不均匀时误差大,主要用于荧光测定;锯齿扫描是用一微小的光束同时互相垂直的两个方向进行锯齿状扫描,由于光束小 (1.25mm*1.25mm),光束内部浓度差异可以忽略不计,因而受斑点形状和浓度分布的影响小。
散射参数SX:由于薄层对光散射,其吸收度A和浓度KX之间不服从比尔定律,而符合K-M方程,其吸收度由于散射而减小,A-KX曲线偏向横轴,不成直线,其形状与SX有关。为测定方便。薄层扫描仪均装有线性化器,用于对工作曲线进行校正,使其成为直线。因此,测定时需输入散射参数SX值。不少薄层板的SX值已知。若未知,可根据校正结果判断(图)。